SEU（Single Event Upset，单粒子翻转）是指在辐射环境中，高能粒子（如宇宙射线中的质子或重离子）与半导体器件相互作用，导致器件内部存储单元的状态发生意外翻转的现象。这种现象在航天器、卫星、高性能计算系统等对可靠性要求极高的应用中尤为重要。
SEU的详细说明
1. SEU的物理机制
SEU的发生是由于高能粒子穿过半导体材料时，会在材料中产生电离效应，形成电子-空穴对。这些电荷载流子被器件的电场收集，导致存储单元的状态发生翻转。例如，在静态随机存取存储器（SRAM）中，一个比特位的状态可能从“0”翻转为“1”，或者从“1”翻转为“0”。